基本信息
| 标准名称： | 绝缘栅双极型晶体管测试方法 |
| 英文名称： | Measuring methods for insulated-gate bipolar transistor |
| 中标分类： | 电工 >> 输变电设备 >> 电力半导体期间、部件 |
| ICS分类： | 电子学 >> 半导体器件 >> 三极管 |
| 替代情况： | 作废; |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1997-10-05 |
| 实施日期： | 1998-08-01 |
| 首发日期： | 1997-10-05 |
| 作废日期： | 2005-10-14 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 西安电力电子技术研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-08-14 |
| 页数： | 平装16开， 页数：18， 字数：31千字 |
| 书号： | 155066.1-14564 |
适用范围
本标准适用于N沟道绝缘栅双极型晶体管的电、热特性测量和额定值检验。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电工 输变电设备 电力半导体期间 部件 电子学 半导体器件 三极管