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【英文标准名称】:Metallicpowders-Determinationofoxygencontentbyreductionmethods-Part3:Hydrogen-reducibleoxygen(ISO4491-3:1997);EnglishversionofDINENISO4491-3:2006-06
【原文标准名称】:金属粉末.用还原法测定氧含量.第3部分:可被氢还原的氧量
【标准号】:ENISO4491-3-2006
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2006-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;砝码;碳;化学分析和试验;含量测定;氢;氢还愿;材料;材料技术;金属粉末;金属;氧;含氧量;粒状材料;粉末冶金;试剂;还原;还原法;抽样方法;试验报告;试验结果;试验
【英文主题词】:Analysis;Carbon;Chemicalanalysisandtesting;Determinationofcontent;Hydrogen;Hydrogenreduction;Materials;Materialstechnology;Metallicpowders;Metals;Oxygen;Oxygencontent;Particulatematerials;Powdermetallurgy;Reagents;Reduction;Reductionmethods;Samplingmethods;Testreports;Testresults;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:H70
【国际标准分类号】:77_160
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Testingofmaterialsforuseinsemiconductortechnology;detectionofcrystaldefectsandinhomogeneitiesinsiliconsinglecrystalsbyX-raytopography
【原文标准名称】:半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性
【标准号】:DIN50443-1-1988
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1988-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:晶体缺陷;半导体工艺;半导体;试验;材料;半导体工程;定义;硅;晶体;X射线分析
【英文主题词】:Crystaldefects;Crystals;Definition;Definitions;Materials;Semiconductorengineering;Semiconductortechnology;Semiconductors;Silicon;Testing;X-rayanalysis
【摘要】:Thisstandarddeterminesthemethodsfortherecognitionofdefectsandinhomogeneitiesinsemiconductorsiliconsinglecrystalsbyx-raytopography.
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语